● 2套X射線源，測(cè)試能力更全面強(qiáng)大
● 配備平板探測(cè)器和線陣探測(cè)器，滿足多樣化測(cè)試需求
● 通過螺旋掃描、偏置掃描進(jìn)一步擴(kuò)展成像區(qū)域
● 掃描過程簡(jiǎn)單、快速重建成像，可編程掃描工藝保證批量樣件測(cè)試的一致性和便捷性
● 專用算法增強(qiáng)圖像清晰效果，獲得優(yōu)質(zhì)圖像質(zhì)量
分辨率
細(xì)節(jié)分辨率 | 30μm | 0.5 μm |
X射線源
類型 | 閉管 | 開管 | ||
電壓 | 600KV | 500KV/450KV | 300KV | 240KV/225KV |
焦斑尺寸* 0.7mm @0.7kW 2.0mm @1.5kW | 焦斑尺寸* 0.4mm @0.7kW 1.0mm @1.5kW | JIMA 分辨率 3 μm | JIMA 分辨率 2 μm | |
平板探測(cè)器**
成像面積 | 427mm×427mm |
像素矩陣 | 3072×3072 |
樣品
可檢測(cè)樣品尺寸 | 800mm×1100mm(直徑×高度) |
樣品承重 | 100Kg |
設(shè)備物理參數(shù)
設(shè)備尺寸 | 3700mm×2300mm×2800mm(長(zhǎng)×寬×高) |
設(shè)備重量 | 35000kg~60000kg |
可根據(jù)需求配置硬件和軟件
焦斑尺寸*: 符合 EN 12543
探測(cè)器：其他可選尺寸，如600mm×560mm，400mm×400mm。
高分辨線陣探測(cè)器(選配):可選尺寸如有效成像長(zhǎng)度627.2mm,470.4mm,313.6mm等。
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